優(yōu)于4nm(SE)國(guó)產(chǎn)掃描電鏡

中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國(guó)產(chǎn)掃描電鏡是一款用于對(duì)樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測(cè)和分析的緊湊型設(shè)備。

鎢燈絲電子槍能夠產(chǎn)生較大的總發(fā)射電流和束斑，且電流穩(wěn)定性較好，這對(duì)于需要較強(qiáng)電子束流來(lái)激發(fā)樣品信號(hào)的檢測(cè)任務(wù)非常有利，如對(duì)塊狀樣品、厚樣品或?qū)щ娦暂^差的樣品進(jìn)行觀察和分析時(shí)，可以獲得更清晰、更準(zhǔn)確的圖像和數(shù)據(jù)。

核心優(yōu)勢(shì)

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺(tái)式設(shè)計(jì)，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室），節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。

（2）支持快速移機(jī)，一臺(tái)設(shè)備滿足多場(chǎng)景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級(jí)分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達(dá)200,000倍放大，精準(zhǔn)捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀形貌。

（2）高襯度成像系統(tǒng)，快速掃描也能清晰呈現(xiàn)微弱信號(hào)，滿足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁，穩(wěn)定無(wú)懼挑戰(zhàn)

（1）特殊隔振設(shè)計(jì)（CEM3000B搭載復(fù)合抗振系統(tǒng)），消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車間、車載實(shí)驗(yàn)室等復(fù)雜環(huán)境，穩(wěn)定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時(shí)間。

（2）自動(dòng)對(duì)焦、消像散、圖像增強(qiáng)功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門檻。

5、靈活拓展，滿足多樣需求

（1）可選配低真空系統(tǒng)（5~100Pa），兼容導(dǎo)電/非導(dǎo)電樣品觀測(cè)。

（2）支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統(tǒng)計(jì)、孔隙率測(cè)量等定制功能，滿足多領(lǐng)域分析需求。

中圖儀器優(yōu)于4nm(SE)國(guó)產(chǎn)掃描電鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對(duì)比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉(cāng)型）：70mm×70mm樣品倉(cāng)，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動(dòng)環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用領(lǐng)域

該電鏡外型緊湊，空間適用性強(qiáng)，整機(jī)采用大量的抗干擾設(shè)計(jì)，避免使用環(huán)境造成的影響，拓寬了應(yīng)用范圍。同時(shí)，該系列臺(tái)式電鏡具有非常豐富的自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，能夠?qū)Σ煌愋偷臉悠愤M(jìn)行觀測(cè)，具有高空間分辨率。

用戶可在CEM3000系列臺(tái)式掃描電鏡上搭配不同的探頭，同時(shí)接收多種信號(hào)，對(duì)樣品進(jìn)行分析。

應(yīng)用范例：

應(yīng)用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測(cè)、涂層性能評(píng)估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測(cè)、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測(cè)。